菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

更新時間：2025-05-28

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簡要描述：

菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237，菲希爾測厚儀，菲希爾x射線測厚儀，fischer測厚儀。

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品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,石油,能源,電子/電池

菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達(dá)驅(qū)動的X/Y工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點(diǎn)，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點(diǎn)的調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)，型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規(guī)規(guī)定。

為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時間和精力。

由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。

菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

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x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格：

通用規(guī)格

設(shè)計(jì)用途	能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍	從元素氯(17) 到鈾(92) 配有可選的WinFTM BASIC軟件時，zui多可同時測定24種元素
形式設(shè)計(jì)	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	從上到下

X射線源

X射線管	帶鈹窗口的微聚焦鎢管
高壓	三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）標(biāo)準(zhǔn)（523-440）可選（523-366）可選（524-061）	4個可切換準(zhǔn)直器 [mm]: 0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: 0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: 0.1, 0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制
基本濾片	3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）
測量點(diǎn)	取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小，實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的測量點(diǎn)大小: 光圈約 0.1 mm（選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時）